Esta asignatura brinda una visión general sobre las técnicas de caracterización de materiales más utilizadas hoy en día, de sus potencialidades y posibles limitaciones. Para ello su programa de marcado carácter experimental, pone fundamental énfasis en el desarrollo de las habilidades del alumno tanto en el manejo de las técnicas de caracterización estructural y de superficie como también en la interpretación de forma autónoma de los resultados sencillos obtenidos a partir de las mismas, integrando su significado en un contexto de investigación.
El programa está organizado en 28 sesiones de 1,5 horas, divididas en 18 sesiones teóricas-prácticas y 10 sesiones prácticas (en laboratorio) , de acuerdo con la siguiente estructura:
SESIONES TEÓRICAS:
- Introducción a las técnicas de caracterización. Medida, análisis de resultados e interpretación.
- Tecnología de vacío (técnicas de preparación y mantenimiento de superficies limpias).
- Técnicas de espectroscopia fotoelectrónica para el análisis químico de superficies (ESCA).
- Espectroscopia electrónica Auger (AES, Auger Electron Spectroscopy) y de fotoelectrones (XPS, Photoelectron X-ray Spectroscopy).
- Técnica de medida del coeficiente de emisión secundaria (SYE, Secondary Yield Emission).
- Microscopia electrónica de transmisión en materiales I y II: TEM, STEM. Análisis de EDX, EELS y contraste Z.
- Análisis de materiales con haces de iones de alta energía (MeV).
- Introducción a la Técnica de tomografía de sonda atómica. Estructura atómica tridimensional (APT, Atom Probe Tomography). Estructura atómica.
- Técnicas de caracterización microestructural en láminas delgadas y de volumen:
- Simetrías Cristalinas. Difracción de Rayos X.
- Difracción de electrones y neutrones.
- Difracción de electrones retrodispersados (EBSD, Electron Backscatter Diffraction).
- Aplicación de técnicas de caracterización microestructural sobre materiales policristalinos.
- Técnica de aniquilación de positrones.
- Espectroscopia Raman y de Absorción Infrarroja.
SESIONES PRÁCTICAS:
- Difracción de Rayos X, electrones y Neutrones.
- Descripción de los elementos que componen un sistema de ultra alto vacío. Caracterización de los gases componentes del vacío residual de un sistema de ultra alto vacío mediante la utilización de un espectrómetro de masas.
- Caracterización de superficies de metales mediante el estudio de la emisión de electrones secundarios.
- Técnica de aniquilación de positrones.
- Caracterización de defectos en sólidos mediante técnicas de Espectroscopia Óptica. Defectos ópticamente activos utilizados como sondas estructurales.
- Técnica Pin-on-disc.