Última actualización: 28/04/2023

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Curso Académico: 2023/2024

Sensores y técnicas de medida avanzados
(18327)
Grado en Ingeniería Física (Plan: 434 - Estudio: 363)


Coordinador/a: ACEDO GALLARDO, PABLO

Departamento asignado a la asignatura: Departamento de Tecnología Electrónica

Tipo: Obligatoria
Créditos: 3.0 ECTS

Curso: 4º
Cuatrimestre: 1º



Requisitos (Asignaturas o materias cuyo conocimiento se presupone)
Electromagnetismo y Óptica. Fundamentos de Estado Sólido para Ingeniería Fundamentos de Ingeniería Electrónica Física Estadística Instrumentación y Medida Fotónica
Objetivos
Conocer los fundamentos detrás de diversos sensores avanzados de relevancia en aplicaciones científicas e industriales como son los MEMS, MOEMS, sistemas microfluidicos y sensores químicos, así como las últimas novedades en nuevos materiales y procesos de fabricación para sensores, así como su campo de aplicación en sistemas de instrumentación y medida en entornos biomédicos y biológicos. Conocer diversos instrumentos y técnicas experimentales de uso general en investigación (microscopía y espectroscopía entre otros) y los instrumentos científicos más relevantes.
Competencias y resultados del aprendizaje
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Descripción de contenidos: Programa
1.- Introducción. Revisión de conceptos metrólogicos y el SI. 2.- Aspectos técnicos de los sensores electrónicos. 3.- Microsistemas: MEMS y MOEMS 4.- Sistemas y sensores microfluídicos. Funcionalización. 5.- Sensores químicos. 6.- Espectroscopia y técnicas espectroscópicas. 7.- Instrumentos Científicos.
Actividades formativas, metodología a utilizar y régimen de tutorías
AF1. CLASES TEÓRICO-PRÁCTICAS. AF3. TRABAJO INDIVIDUAL O EN GRUPO DEL ESTUDIANTE. AF8. TALLERES Y LABORATORIOS. AF9. EXAMEN FINAL. MD1. CLASE TEORÍA. MD2. PRÁCTICAS.
Sistema de evaluación
  • Peso porcentual del Examen Final 50
  • Peso porcentual del resto de la evaluación 50
Calendario de Evaluación Continua
Bibliografía básica
  • Liu C. . Foundations of MEMS. Second Edition. Prentice Hall . 2012
Bibliografía complementaria
  • Kaajakari V. . Practical MEMS. Small Gear Publising . 2009
  • Tkachenko N.V. . Optical Spectroscopy. Methods and Instrumentations. Elsevier. 2006

El programa de la asignatura podría sufrir alguna variación por causa de fuerza mayor debidamente justificada o por eventos académicos comunicados con antelación.