Última actualización: 19/05/2022


Curso Académico: 2022/2023

Sensores y técnicas de medida avanzados
(18327)
Grado en Ingeniería Física (Plan: 434 - Estudio: 363)


Coordinador/a: ACEDO GALLARDO, PABLO

Departamento asignado a la asignatura: Departamento de Tecnología Electrónica

Tipo: Obligatoria
Créditos: 3.0 ECTS

Curso:
Cuatrimestre:




Requisitos (Asignaturas o materias cuyo conocimiento se presupone)
Electromagnetismo y Óptica. Fundamentos de Estado Sólido para Ingeniería Fundamentos de Ingeniería Electrónica Física Estadística Instrumentación y Medida Fotónica
Objetivos
Conocer los fundamentos detrás de los sensores basados en MEMS y MOEMS, así como las últimas novedades en nuevos materiales y procesos de fabricación para sensores, así como su campo de aplicación. Conocer los fundamentos de los sistemas microfluídicos y su uso en sistemas de instrumentación y medida en entornos biomédicos y biológicos. Conocer diversos instrumentos y técnicas experimentales de uso general en investigación y desarrollo de dispositivos e instrumentos de alto valor añadido: microscopía y espectroscopía entre otros.
Competencias y resultados del aprendizaje
Descripción de contenidos: Programa
1.- MEMS. Microelectromechanical Systems Introducción. Leyes de escalado Fundamentos de diseño de microsistemas. Ejemplos. Ejemplos de sensores MEMS y aplicaciones. 2.- MEMS Ópticos (MOEMS). Introducción y clasificación. Dispositivos basados en microespejos y aplicaciones de escaneado MEMS ópticos para procesado de señal y comunicaciones 3.-Técnicas y procesos de microfabricación para MEMS y otros sensores. Bulk micromaching Surface micromachining Fabricación aditiva de microestructuras. 4.-Nuevos materiales y componentes para sensores. Electrónica y fotónica orgánica. Electrónica flexible Funcionalización de superficies y biosensores. 5.-Sensores microfluídicos Introducción. Concepto de microfluídica. Fundamentos y componentes microfluídicos: canales, válvulas y bombas. Ejemplos. Lab-on-a-chip y organ-on-a-chip 6.-Técnicas de instrumentación y experimentales avanzadas. Microscopía óptica, microscopía de fluorescencia y confocal. Espectroscopia
Actividades formativas, metodología a utilizar y régimen de tutorías
AF1. CLASES TEÓRICO-PRÁCTICAS. AF3. TRABAJO INDIVIDUAL O EN GRUPO DEL ESTUDIANTE. AF8. TALLERES Y LABORATORIOS. AF9. EXAMEN FINAL. MD1. CLASE TEORÍA. MD2. PRÁCTICAS.
Sistema de evaluación
  • Peso porcentual del Examen Final 50
  • Peso porcentual del resto de la evaluación 50
Calendario de Evaluación Continua
Bibliografía básica
  • Liu C. . Foundations of MEMS. Second Edition. Prentice Hall . 2012
Bibliografía complementaria
  • Kaajakari V. . Practical MEMS. Small Gear Publising . 2009
  • Tkachenko N.V. . Optical Spectroscopy. Methods and Instrumentations. Elsevier. 2006

El programa de la asignatura podría sufrir alguna variación por causa de fuerza mayor debidamente justificada o por eventos académicos comunicados con antelación.