1. Introducción al test de circuitos analógicos y digitales.
2. Fuentes de fallo y modelos de fallo. Simulación de fallos.
3. Test de circuitos digitales combinacionales y secuenciales. Generación automática de vectores de test. ATPG.
4. Diseño para testabilidad. Técnicas estructuradas: scan path, boundary scan, autotest (BIST). Técnicas ad-hoc.
5. Herramientas de test
Actividades formativas, metodología a utilizar y régimen de tutorías
- Clase teórica
- Clase práctica
- Prácticas de laboratorio o aula informática
- Exámenes parciales y finales
- Trabajo individual del estudiante
- Trabajo en grupo
Sistema de evaluación
El programa de la asignatura podría sufrir alguna variación por causa de fuerza mayor debidamente justificada o por eventos académicos comunicados con antelación.
